基于EFA‐GA-XGBoost组合预测模型的绝缘子表面污秽程度预测方法
作者：赵昕迪
单位：重庆科技学院
文章提出了基于探索性因子分析的GA-XGBoost组合预测模型评估绝缘子表面污秽状态，以个因子变量及其得分作为输入，绝缘子上下表面的ESDD和NSDD作为输出建立基于XGBoost的污秽预测，所提模型具有更短的预测时间、更高的预测精度和更强的泛化能力。
DOI：
10.16520/j.cnki.1000-8519.2022.05.006
关键词：
Array
所属期刊栏目：
理论与算法
分类号：
TM216
页码：
68-70
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